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简要描述:高低温温度冲击试验箱(左右吊篮冲击):电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复测试。
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所属分类:温度冲击试验箱
产品时间:2024-09-04
高低温温度冲击试验箱(左右吊篮冲击):电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复测试。
一、型号:TSC-225PF-2P
二、冲击温度:-40~150
三、精度条件:高温~低温5分钟内达到,9点温度均匀度正负2度
高低温温度冲击试验箱(左右吊篮冲击)
1)试验样品应按标准要求放置在试验箱内,并将试验箱(室)内温度升到达点,保持一定的时间至试验样品达到温度稳定,以时间长都为准。
2)高温阶段结束后,在5min内将试验样品转换到已调节到-55℃的低温试验箱(室)内,保持1h或者直至试验样品达到温度稳定,以时间长都为准。3)低温阶段结束后,在5min内将试验样品转换到已调节到70℃的高温试验箱(室)内,保持1h或者直至试验样品达到温度稳定,以时间长都为准。
4、重复上述实验方法,以完成三个循环周期。根据样件大小与空间大小,时间可能会略有误差。恢复:试验样品从试验箱内取出后,应在正常的试验大气条件下进行恢复,直至试验样品达到温度稳定。
5.后检测:对照标准中的受损程度及其它方法进行检测结果评定。