半导体芯片高低温环境老化试验箱

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  半导体芯片高低温环境老化试验箱

一、符合标准：

符合GB/T2423.1低温试验方法、GB/T2423.2高温试验方法、GB/T2423.3恒定湿热试验方法、GB/T5170.5湿热试验设备、GB/T10586湿热试验技术条件等国家标准。

二、箱体材质：
1、内胆为进口优质镜面不锈钢板（SUS304）。
2、外壳均采用优质A3钢板数控机床加工成型，外壳表面进行喷塑处理，更显光洁美观。3、保温材质选用高密度纤维棉，保温棉厚度为100mm。
4、湿热老化试验箱观察窗采用多层中空钢化，内设照明灯，内侧胶合片式导电膜加热除霜清楚观察试验过程。
5、门与箱体之间采用双层耐高温高涨性密封条以确保测试区的密闭。
6、机器底部采用高品质可固定式PU活动轮，方便移动。
7、箱体左侧配Φ50mm测试孔一个，可供外接测试电源线或信号线使用，孔径或孔数增   加需说明。

三、加热、加湿系统：
1、高温低温湿热*独立系统，采用金高速加温电热器。
2、外置式锅炉蒸汽式加湿器具有节能降耗功能，具有水位自动补偿。

四、可制冷系统：
1、压缩机：全封闭原装法国泰康。
2、制冷方式：单（双）机制冷。
3、冷凝方式：强制风冷冷却。
4、除湿采用蒸发器盘管露点温度层流接触除湿方式。
5、湿热老化试验箱的电磁阀、油分离器，干燥过滤器、修理阀、冷媒流量视窗、贮液筒均采用进口原装件。、安全保护系统：
   设备整体超温、制冷系统过载、制冷系统超压、漏电、缺水、运行指示，故障报警    后自动停机等保护。

五、控制系统：
1、采用全进口高精度彩色触摸屏温湿度控制器，P.I.D高精度控制。
2、湿度为直观显示控制，摒弃原有温湿度相对照的缺陷。
3、湿度控制均采用P.I.D ＋S.S.R，系统同频道协调控制。
4、精度：0.1、解析度：±0.1℃，感温传感器：PT100铂电阻测试器。
5、循环系统采用耐温低噪音空调型电机，多叶式离心风轮。

六、设备使用条件：
1、环境温度：5℃～30℃、环境湿度：≤85%R.H。
2、机器放置前后左右各80公分不可放置东西。

七、标准配置：

电缆孔（位于左侧）一个、孔塞孔盖各一只、不锈钢试样架二套（高度    可调）、移动脚轮、平水脚杯、加湿水箱、湿球纱布、出水管、通讯接口装置、通讯   光碟、操作说明书、质量保证卡、装箱单。