芯片高低温冲击试验箱故障维修内容

    当机器发生了故障后，芯片高低温冲击试验箱故障点有哪些呢？那么，芯片高低温冲击试验箱故障维修内容如下：

低温达不到试验的指标怎么办？

   高低温冲击试验箱先观察温度的变化，是温度降的很慢，还是温度到一定值后温度有回升的趋势，前者就要检查一下，做低温试验前是否将工作室烘干，使工作室保持干燥后再将试验样品放入工作室内再做试验，工作室内的试验样品是否放置的过多，使工作室内的风不能充分循环，在排除上述原因后，就要考虑是否是制冷系统中的故障了，这样就要请厂家的专业人员进行检修。后者的现象是设备的使用环境不好所致，设备放置的环境温度，放置的位置(箱体与墙的距离)要满足要求(在设备操作使用说明中都有规定)。

温度升得很慢怎么办？

   高低温冲击试验箱先我们要查看风循环系统，看一下风循环的调节挡板是否开启正常，反之，就检查风循环的电机运转是否正常。

温度过冲厉害怎么办？

   整理检查PID的设置参数，调整OK重新开机测试。温度直接上升怎么办？这个是因为控制器出故障，须更换控制仪表。

温度冲击与温度循环怎样分辩？

   温度冲击与温度循环两者的差异性在哪里，这个都是一样的仅仅称谓不一样而已。

温度冲击试验驻留时间怎样抉择？

    在冲击进程傍边有所谓的驻留时间，待测品的驻留时间要怎样抉择，是依据待测品的数量，或是看待测品的原料而定的。

冲击温度需要或低于设定值？

    在冲击进程中，冲击温度因该是高于设定值，才是正确的。